產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Lumina光學表面缺陷分析儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
article
相關(guān)文章非接觸式輪廓儀優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸,保護了測量裝置,同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。 Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采集高分辨率 3D 掃描和真彩色無限對焦圖像。其他測量技術(shù)包括白光干涉法、Nomarski 干涉對比顯微鏡和剪切干涉法。 Zeta-20 也可用于樣品審查或自動缺陷檢測。
更新時間:2025-09-18
產(chǎn)品型號:Zeta-20
瀏覽量:6435
Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。
更新時間:2025-09-26
產(chǎn)品型號:Profilm 3D
瀏覽量:5219
從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制,該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價。白光干涉原理。
更新時間:2024-09-06
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:2125
P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀,將P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本,適用于半導(dǎo)體,化合物半導(dǎo)體和相關(guān)行業(yè)。 P-170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無需圖像拼接。
更新時間:2025-09-26
產(chǎn)品型號:P170
瀏覽量:5833
自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P17。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力2D和3D測量,掃描可達200mm無需圖像拼接。結(jié)合UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺,有出色測量穩(wěn)定性。
更新時間:2025-09-26
產(chǎn)品型號:P17
瀏覽量:2719